2025.07《第一百零四期》
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    應用於奈米材料之掃描穿透式電子顯微鏡分析技術：化學成分分布與三維斷層顯像

     

    博士論文名稱

    應用於奈米材料之掃描穿透式電子顯微鏡分析技術：化學成分分布與三維斷層顯像

    學校/科系

    國立臺灣大學/材料科學與工程學研究所

    研究生姓名

    張景斌/101學年度

    指導教授

    楊哲人

    中文關鍵詞

    掃描穿透式電子顯微鏡、球面像差校正器、光譜成像技術、三維斷層影像、氧化物異質結構、界面擴散、錯合刃差排、奈米複合材料

     



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