應用於奈米材料之掃描穿透式電子顯微鏡分析技術:化學成分分布與三維斷層顯像

 

博士論文名稱

應用於奈米材料之掃描穿透式電子顯微鏡分析技術:化學成分分布與三維斷層顯像

學校/科系

國立臺灣大學/材料科學與工程學研究所

研究生姓名

張景斌/101學年度

指導教授

楊哲人

中文關鍵詞

掃描穿透式電子顯微鏡、球面像差校正器、光譜成像技術、三維斷層影像、氧化物異質結構、界面擴散、錯合刃差排、奈米複合材料

 



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