應用於奈米材料之掃描穿透式電子顯微鏡分析技術:化學成分分布與三維斷層顯像
博士論文名稱 |
應用於奈米材料之掃描穿透式電子顯微鏡分析技術:化學成分分布與三維斷層顯像 |
學校/科系 |
國立臺灣大學/材料科學與工程學研究所 |
研究生姓名 |
張景斌/101學年度 |
指導教授 |
楊哲人 |
中文關鍵詞 |
掃描穿透式電子顯微鏡、球面像差校正器、光譜成像技術、三維斷層影像、氧化物異質結構、界面擴散、錯合刃差排、奈米複合材料 |